[Language]
LANGUAGE=简体中文
CHARACTER_CODE=Unicode (UTF-16, LE, w/ BOM)
; Local ID : http://msdn.microsoft.com/en-us/library/ms912047(WinEmbedded.10).aspx
LOCALE_ID=0x0004, 0x0804, 0x1004, 0x7804

[Url]
WIKIPEDIA_SMART=http://en.wikipedia.org/wiki/Self-Monitoring%2C_Analysis_and_Reporting_Technology

[DiskStatus]
GOOD=良好
CAUTION=警告
BAD=不良
UNKNOWN=未知
DISK=硬盘

[Smart]
UNKNOWN=未知项目
VENDOR_SPECIFIC=厂商特定项目
01=读取错误率
02=吞吐性能
03=起转时间
04=启动-停止次数
05=重新分配扇区计数
06=读取通道余量
07=寻道错误率
08=寻道时间性能
09=通电时间
0A=起转重试次数
0B=重新校准重试次数
0C=启动-关闭循环次数
0D=软读取错误率探针
B8=端到端错误
BB=报告的无法修正错误
BC=命令超时
BD=磁头非正常高度写入
BE=气流温度
BF=加速度感应错误率
C0=断电磁头缩回计数
C1=磁头加载/卸载循环计数
C2=温度
C3=硬件 ECC 已修复错误计数
C4=重新分配扇区物理位置事件计数(与坏道有关)
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
C6=无法修正的扇区总数
C7=UltraDMA CRC 错误计数(与接口/线材质量有关)
C8=写入错误率
C9=软读取错误率
CA=数据地址标记错误
CB=ECC 错误率
CC=软 ECC 校正
CD=热骚动率(极端高温导致的错误)
CE=磁头飞行高度
CF=起转最大电流
D0=起转蜂鸣/起转阶梯(欠压启动时马达加速的流程数)
D1=离线寻道性能
D3=写入时的振动(振荡)
D4=写入时的震动(冲击)
DC=盘片位移
DD=加速度感应错误率
DE=负载小时数(磁头架移动中的时间)
DF=加载/卸载重试计数
E0=加载摩擦
E1=加载/卸载循环计数
E2=加载的时间(磁头架在工作位置的时间)
E3=扭矩放大计数
E4=断电磁头缩回计数
E6=巨磁阻磁头振幅
E7=温度
F0=磁头飞行小时数
FA=读取错误重试率
FE=自由落体保护

;Updated 5.4.0
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计

[SmartSsd]
01=读取错误率
02=吞吐性能
03=启动时间
04=启动-停止次数
05=重新分配扇区计数
06=读取通道余量
07=寻址错误率
08=寻址时间性能
09=通电时间
0A=启动重试次数
0B=重新校准重试次数
0C=启动-关闭循环次数
0D=软读取错误率探针
C0=不安全关机计数
C2=温度
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
C6=无法修正的扇区总数
; CrystalDiskInfo assign
FF=剩余寿命

;Updated 5.4.0
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计

[SmartMtron]
BB=擦除次数总计

[SmartIndlinx]
01=读取错误率
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
B8=出厂坏块计数
C2=温度
C3=编程失败块数
C4=擦除失败块数
C5=读取失败块数
C6=读取扇区数总计
C7=写入扇区数总计
C8=读取命令数总计
C9=写入命令数总计
CA=来自闪存的错误数总计
CB=读取含可修正错误的扇区数总计
CC=坏块满标志
CD=最大 P/E 次数规格
CE=最小擦除次数
CF=最大擦除次数
D0=平均擦除次数
D1=剩余使用寿命

[SmartJMicron60x]
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
C2=温度
E5=中止系统 ID，闪存 ID
E8=固件版本信息
E9=ECC 失败记录
EA=平均擦除次数，最大擦除次数
EB=良好块计数，系统块计数

[SmartIntel]
03=启动时间
04=启动-停止次数
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
C0=不安全关闭计数
E1=主机写入
E8=可用保留空间
E9=介质磨损指示器
B8=端到端错误检测计数

;Updated 4.1.0
AA=可用保留空间
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
BB=无法校正错误计数

;Updated 4.3.0
AE=意外断电
E2=单次工作介质磨损
E3=单次工作主机读写中“读操作”占的比率
E4=单次工作计时器
F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
F9=NAND 写入量总计

;Updated 5.5.0
B7=SATA 性能降级计数
BE=温度
C7=CRC 错误计数

;Updated 5.6.1
AF=掉电保护失败
C2=温度
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)

;Added 6.6.0
EA=温控状态

[SmartSamsung]
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=通电次数
AF=编程失败计数(芯片)
B0=擦除失败计数(芯片)
B1=闪存磨损平均计数
B2=已使用的保留块计数(芯片)
B3=已使用的保留块计数(总计)
B4=未使用的保留块计数(总计)
B5=编程失败计数(总计)
B6=擦除失败计数(总计)
B7=运行中的坏块(总计)
BB=无法校正错误计数
BE=气流温度
C2=温度
C3=ECC 错误率
C6=离线无法校正错误计数
C7=CRC 错误计数
C9=超级电容状态
CA=SSD 模式状态
EB=电源恢复计数(意外断电的次数)
F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计

;Added 6.6
AA=未使用保留块计数(芯片)
AB=编程失败计数(芯片)
AC=擦除失败计数(芯片)
AD=闪存磨损平均计数
AE=意外断电计数
B8=错误检测
E9=标准化后的介质磨损

[SmartSandForce] ;Updated 3.7.0
01=原始读取错误率
05=已隔离老化块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
0D=软读取错误率
64=已擦除 GB 数
AA=保留块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AE=意外断电计数
B1=磨损范围增量(磨损最严重块与磨损最轻块的磨损差异百分比)
B5=编程失败计数
B6=擦除失败计数
B8=已报告的 I/O 检错码错误
BB=已报告的无法校正错误
C2=温度
C3=自适应 ECC 无法校正错误计数
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
C6=无法校正扇区计数
C7=SATA 除错(CRC)错误计数
C9=无法校正的软读取错误率
CC=软 ECC 校正率
E6=寿命曲线状态
E7=SSD 剩余寿命
E8=可用保留空间
EB=超级电容健康状态
F1=全周期主机写入量总计
F2=全周期主机读取量总计

[SmartJMicron61x] ;Added 3.9.0
01=读取错误率
02=吞吐性能
03=启动时间
05=重新分配扇区计数
07=寻址错误率
08=寻址时间性能
09=通电时间
0A=启动重试次数
0C=启动-关闭循环次数
A8=SATA 物理层错误计数
AF=坏簇表计数(ECC 失败计数)
C0=意外断电次数
C2=温度
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
AA=坏块计数
AD=擦除计数

[SmartMicron] ;Added 4.0.0/ Updated 6.1.0
; RAIN = Redundant Array of Independent NAND (独立 NAND 冗余阵列)
01=底层读取错误率
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
0D=软错误率
0E=设备容量(NAND)
0F=用户可用容量
10=可用备用块
11=剩余的备用块
64=擦除次数总计
AA=保留块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AD=平均块擦除计数
AE=意外断电计数
B4=未使用的 NAND 保留块
B5=未对齐访问计数
B7=SATA 接口性能降级
B8=错误校正计数
BB=报告的无法校正错误
BC=命令超时计数
BD=出厂坏块计数
C2=温度
C3=ECC 校正累计 
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
C6=智能离线扫描无法校正的错误计数
C7=Ultra DMA CRC 错误率
CA=已使用寿命百分比
CE=写入错误率
D2=RAIN(独立 NAND 冗余阵列)成功恢复计数
EA=读取字节数总计
F2=距离“禁止写入模式”的剩余备用块数
F3=ECC 校正比特位计数
F4=ECC 临界事件数累计(错误率达到/超过ECC校正能力极限的次数)
F5=累计编程 NAND 页数
F6=主机扇区写入总计
F7=主机编程页数
F8=FTL(闪存转换层)编程页数

[SmartMicronMU02] ;Updated 6.6.0
; RAIN = Redundant Array of Independent NAND
01=底层读取错误率
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=通电次数
0D=软错误率
0E=设备容量(NAND)
0F=用户可用容量
10=可用备用块
11=剩余的备用块
64=擦除次数总计
AA=保留块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AD=平均块擦除计数
AE=意外断电计数
B4=未使用的 NAND 保留块
B7=SATA 接口性能降级
B8=错误校正计数
BB=报告的无法校正错误
BC=命令超时计数
BD=出厂坏块计数
C2=温度
C3=ECC 校正累计
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
C6=智能离线扫描无法校正的错误计数
C7=Ultra DMA CRC 错误率
CA=已使用寿命百分比
CE=写入错误率
D2=RAIN(独立 NAND 冗余阵列)成功恢复计数
EA=读取字节数总计
F3=ECC 校正比特位计数
F4=ECC 临界事件数累计(错误率达到/超过ECC校正能力极限的次数)
F5=累计编程 NAND 页数
F6=主机扇区写入总计
F7=主机编程页数
F8=FTL(闪存转换层)编程页数

; Updated 6.6.0
A0=无法修正的扇区总数
A1=有效空闲块计数
A3=初始无效块计数
94=SLC 擦除总计
95=SLC 擦除最大值
96=SLC 擦除最小值
97=SLC 擦除平均数
A4=TLC 擦除总计
A5=TLC 擦除最大值
A6=TLC 擦除最小值
A7=TLC 擦除平均数
A9=剩余寿命百分比
B5=编程失败计数
B6=擦除失败计数
C0=断电磁头缩回计数
E8=可用保留空间
F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
F5=TLC 写入总计
F6=SLC 写入总计
F7=RAID 恢复计数

[SmartOcz] ;Added 4.5.0
01=原始读取错误率
03=启动时间
04=启动-停止次数
05=重新分配扇区计数
09=通电小时
0C=启动-关闭循环次数
C2=温度
E8=写入扇区数总计
E9=剩余寿命

; Added 6.6.0
64=块擦除总计
A7=固态硬盘保护模式
A8=SATA 物理层错误计数
A9=坏块计数
AD=擦除计数
B8=出厂坏块计数
C0=意外断电计数
CA=校正成功比特位总计
CD=编程/擦除(P/E)计数估算最大值
CE=擦除计数最小值
CF=擦除计数最大值
D3=SATA 无法校正错误数
D4=重试期间 NAND 页读取数
D5=简单重读尝试数
D6=自适应重读尝试数
DD=内部数据通路无法校正的错误数
DE=RAID 恢复计数
E6=掉电保护
FB=NAND 读取计数

;Updated 6.7.0
F1=主机总写入
F2=主机总读取

[SmartPlextor] ;Added 5.1.0
01=读取错误率
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
C0=不安全关机次数
C2=温度
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
C6=不可校正扇区计数
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计

;Updated 5.4.0
B1=闪存磨损平均计数
B2=已使用保留区块计数(最坏情况)
B5=编程失败计数(总计)
B6=擦除失败计数(总计)
BB=无法校正错误计数
C7=Ultra DMA CRC 错误计数
E8=可用保留空间

;Added 6.2.0
AA=新增坏块
AB=编程失败计数(总计)
AC=擦除失败计数(总计)
AD=平均编程/擦除(P/E)计数(总计)
AE=意外断电计数
AF=编程失败计数(最坏情况)
B0=擦除失败计数(最坏情况)
B3=已使用保留块计数(总计)
B4=未使用保留块计数(总计)
B7=SATA 界面性能降级
B8=已校正的端到端数据错误
BC=命令超时
C3=纠错码(ECC) 等级
E9=写入 NAND 的 GB 数

[SmartSanDisk] ;Added 5.2.0
05=已隔离的老化块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
AA=保留块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AE=意外断电计数
BB=报告的无法校正错误
C2=温度
E8=剩余寿命
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计

[SmartOczVector] ;Added 5.3.0
05=运行中坏块累计
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
AB=可用冗余块计数
AE=启动-关闭循环次数(意外)
BB=NAND 无法校正读取总计
C2=温度
C3=编程失败总计
C4=擦除失败总计
C5=读取失败总计(无法校正)
C6=主控读取
C7=主控写入
D0=擦除计数平均值
D2=SATA CRC 错误计数
E9=剩余寿命
F9=NAND 编程次数总计

;Updated 5.5.0
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计

;Updated 6.6.0
64=块擦除总计
B8=出厂坏块总计
CA=校正成功比特位总计
CD=编程/擦除(P/E)计数估算最大值
CE=擦除计数最小值
CF=擦除计数最大值
D4=需要重试的 NAND 页读取数
D5=简单重读尝试总计
D6=自适应重读尝试总计
DD=内部数据通路保护无法校正的错误数
DE=RAID 恢复计数
E0=在保修内标记
E1=DAS 极性
E2=部分电源失效(Pfail)
E6=写入控制激活标记
F9=NAND 编程页面数总计
FB=NAND 读取总计

[SmartCorsair] ;Added 6.2.0
01=原始读取错误率
05=已隔离的老化块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
AA=保留块计数
AC=擦除失败计数
AE=意外断电计数
B5=编程失败计数
BB=报告的无法校正错误
C2=温度
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
E7=固态硬盘剩余寿命
F1=全周期写入量(GB 数)
F2=全周期读取量(GB 数)

[SmartToshiba] ;Added 6.2.0
01=读取错误率
02=吞吐性能
03=启动时间
04=启动-停止次数
05=重新分配扇区计数
07=寻道错误率
08=寻道时间性能
09=通电小时数
0A=启动重试次数
0B=重新校准重试次数
0C=启动-关闭循环次数
A7=固态硬盘保护模式
A8=SATA 物理层错误计数
A9=坏块数总计
AD=擦除计数
C0=意外断电计数
C2=温度
C4=重新分配扇区物理位置事件计数(与坏块有关)
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
C6=无法修正的扇区总数
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计

[SmartSanDiskGb] ;Added 6.2.0
05=重新分配块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
A6=最小写入/擦除循环数
A7=裸片中最大坏块数
A8=最大擦除循环
A9=坏块总计
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AD=平均擦除循环
AE=意外断电计数
BB=报告的无法校正错误
C2=温度
D4=SATA 物理层错误计数
E6=编程/擦除(P/E)总计 (百分比)
E8=剩余备用块
E9=对 NAND 写入量总计(GB 数)
F1=写入量总计(GB 数)
F2=读取量总计(GB 数)

[SmartKingston] ;Added 6.6.0
01=读取错误率
02=吞吐性能
03=起转时间
05=重新分配扇区计数
07=寻道错误率
08=寻道时间性能
09=通电时间
0A=起转重试次数
0C=启动-关闭循环次数
A8=SATA 物理层错误计数
AA=坏块计数
AD=擦除计数
AF=坏簇表计数
BB=无法修正的错误数
C0=不安全关机计数
C2=温度
C4=出厂后坏块
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
C7=CRC 错误计数
DA=CRC 错误计数
E7=固态硬盘剩余寿命
E9=闪存写入总计
F0=写头
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计
F4=擦除计数平均值
F5=擦除计数最大值
F6=擦除计数总计

[SmartNVMe] ;Added 6.7.0
01=严重警告标志
02=综合温度
03=可用备用空间
04=可用备用空间阈值
05=已用寿命百分比
06=读取单位计数
07=写入单位计数
08=主机读命令计数
09=主机写命令计数
0A=控制器忙状态时间
0B=启动-关闭循环次数
0C=通电时间
0D=不安全关机计数
0E=媒体与数据完整性错误计数
0F=错误日志项数

[SmartRealtek] ;Added by Realtek
01=原始数据错误率
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
A1=GDN
A2=擦除计数总计
A3=编程/擦除(P/E)计数最大值
A4=擦除计数平均值
A5=初始坏块数
A6=总坏块数
A7=固态硬盘保护模式
A8=SATA 物理层错误计数
A9=健康状态
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AE=意外断电计数
AF=ECC 校正失败计数
B5=未对齐访问计数
BB=报告的无法校正错误
C2=外壳温度
C3=错误校正累计
C4=重新分配扇区事件计数
C7=Ultra DMA CRC 错误计数
CE=擦除计数最小值
CF=擦除计数最大值
E7=剩余寿命
E8=可用保留空间
F1=写入寿命
F2=读取寿命
F9=对 TLC NAND 写入量总计(GB 数)
FA=对 SLC NAND 写入量总计(GB 数)

[SmartSKhynix] ; Add 2019-05-14 (ex. SC308)
01=读取错误率
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
64=擦除计数总计
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AE=意外断电计数
AF=编程失败计数 (最坏情况)
B0=擦除失败计数 (最坏情况)
B1=闪存磨损平均计数
B2=已用保留块计数 (最坏情况)
B3=已用保留块计数 (SSD 总计)
B4=未用保留块计数 (SSD 总计)
B5=编程失败计数 (SSD 总计)
B6=擦除失败计数 (SSD 总计)
B7=SATA 性能降级计数
BB=已报告的无法校正错误
BC=命令超时计数
BF=Op Shock 事件计数
C2=温度
C3=ECC 校正率
C7=CRC 错误计数
C9=无法校正的软读取错误率
CC=软 ECC 校正
E7=SSD 剩余寿命
EA=NAND 写入量
F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
FA=NAND 读取重试总计

; Updated 8.8.0
A8=擦除计数最小值
A9=擦除计数最大值
AA=保留块计数
B8=端到端错误检测计数
C4=重新分配扇区物理位置事件计数(与坏块有关)
C6=无法修正的扇区总数
D4=物理层错误计数
E9=SSD 剩余寿命

[SmartKioxia]
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
A7=固态硬盘保护模式
A8=SATA 物理层错误计数
A9=坏块计数
AD=擦除计数(用户数据)
C0=意外断电计数
C2=温度
F1=主机写入

[SmartWdc]
01=读取错误率
05=重新分配块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
A5=块擦除计数(SLC)
A6=最小写入/擦除循环数
A7=裸片中最大坏块数
A8=最大擦除循环
A9=坏块总计
AA=新增坏块
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AD=平均擦除循环
AE=意外断电计数
B8=端到端错误检测/校正计数
BB=报告的无法修正错误
BC=命令超时计数
C2=温度
C7=CRC 错误计数
D4=SATA 物理层错误计数
E6=介质磨损指示器
E8=剩余备用块
E9=写入 NAND 的 GB 数
EA=写入 NAND 的 GB 数(SLC)
EE=介质磨损指示器(剩余周期)
F1=写入量总计(GB 数)
F2=读取量总计(GB 数)
F4=温控状态
F9=写入 NAND 的 GB 数

[SmartKingstonSuv]
01=读取错误率
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
AA=已使用的保留块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AE=意外断电计数
AF=编程失败计数最差值
B0=擦除失败计数最差值
B1=闪存磨损平均计数
B2=未使用的保留块计数最差值
B4=未使用的保留块计数(SSD Total)
BB=报告的无法修正错误
C2=温度
C3=实时ECC错误计数
C4=重新分配扇区物理位置事件计数(与坏块有关)
C5=等待中扇区数
C7=UDMA CRC 错误计数
C9=无法修正读取错误率
CC=软 ECC 校正率
E7=SSD 剩余寿命
EA=全周期Nand写入
F1=全周期主机写入
F2=全周期主机读取
FA=NAND 读取重试总计

[SmartKingstonKC600]
01=读取错误率
05=重新分配的NAND块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
94=预留
95=预留
96=预留
97=SLC 平均擦除次数
9F=DRAM 1 bit 错误计数
A0=报告的 UECC(无法修正)错误
A1=可用保留空间
A4=预留
A5=预留
A6=预留
A7=平均擦除次数
A8=预留
A9=额定寿命剩余百分比
B1=预留
B5=编程失败计数
B6=擦除失败计数
C0=意外断电计数
C2=温度
C3=硬件 ECC 已修复错误计数
C4=重新分配扇区物理位置事件计数(与坏块有关)
C7=UDMA CRC 错误计数
E7=额定寿命剩余百分比
E8=未使用的保留块计数
F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
F5=介质总写入

[SmartKingstonDC500]
01=主机UNC错误计数
09=通电时间
0C=通电/断电循环
A7=固态硬盘保护模式
A8=SATA 物理层错误计数
A9=坏块率
AA=坏块信息
AC=擦除失败计数
AD=擦除计数
B5=编程失败计数
B6=擦除失败计数
BB=主机UNC错误计数
C0=意外断电计数
C2=温度
C4=出厂后坏块总计
C7=CRC 错误计数
CF=温控计数
DA=CRC 错误计数
E7=SSD剩余寿命
E8=读取失败计数
E9=NAND写入
F1=主机写入
F2=主机读取
F4=Avg擦除计数
F5=擦除计数最大值
F6=擦除计数总计

[SmartKingstonSA400]
01=无法修正的错误数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
94=厂商特定项目
95=厂商特定项目
A7=厂商特定项目
A8=SATA 物理层错误计数
A9=厂商特定项目
AA=坏块计数
AC=厂商特定项目
AD=擦除计数
B5=厂商特定项目
B6=厂商特定项目
BB=无法修正ECC错误
C2=温度
C4=重新分配事件
C7=SATA CRC 错误计数
DA=CRC 错误计数
E7=SSD磨损指示器
E9=全周期Nand写入
F1=全周期主机写入
F2=全周期主机读取
F4=平均擦除次数
F5=擦除计数最大值
F6=擦除计数总计

[SmartSsstc]
01=原始读取错误率
05=重新分配块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
AA=可用保留空间
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AD=平均编程/擦除(P/E)计数
AE=意外断电计数
AF=编程失败计数(最坏情况)
B0=擦除失败计数(最坏情况)
B1=闪存磨损平均计数
B2=已使用的保留块计数(最坏情况)
B3=已使用的保留块计数(总计)
B4=未使用的保留块计数(总计)
B7=SATA界面性能降级
B8=端到端数据错误计数
BB=无法校正错误计数
BC=命令超时
C2=温度
C3=ECC 等级
C6=离线无法校正错误计数
C7=SATA CRC 错误计数
E5=掉电保护失败
E7=剩余寿命百分比
E8=可用保留空间 
E9=写入 NAND 的 GB 数
F1=主机总写入
F2=主机总读取
F3=写入 NAND 的 GB 数

[SmartIntelDc]
01=Raw读取错误计数
05=重新分配闪存块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
0E=设备容量
0F=用户容量
10=可用备用块
11=可用剩余备用
AC=块擦除失败总计
AD=每块最大擦除计数
AE=意外断电计数
AF=平均擦除次数
B0=掉电保护错误
B5=块程序失败总计
B8=端到端错误检测计数
BB=无法校正错误计数
C2=温度
C5=等待中扇区计数
C6=离线无法校正错误计数
C7=CRC 错误计数
CA=已使用寿命百分比
E2=定时工作负载 - 介质磨损
E3=定时工作负载 - 主机读/写比率
E4=定时工作负载定时器
EA=主机字节读取总计
EB=主机字节/扇区写入总计
F1=Nand字节/扇区写入总计

[SmartApacer]
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
A3=最大擦除次数
A4=平均擦除次数
A6=出厂后坏块数总计
A7=固态硬盘保护模式
A8=SATA 物理层错误计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AF=坏簇表计数
C0=意外断电计数
C2=温度
E7=剩余周期
F1=扇区写入总计

[SmartSiliconMotion]
01=读取错误率
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
94=SLC 擦除计数总计
95=SLC 最大擦除计数
96=SLC 最小擦除计数
97=SLC 平均擦除次数
9F=DRAM 1 bit 错误计数
A0=读/写时无法修正的扇区计数
A1=有效备用块数
A2=缓存数据块数
A3=初始无效块数
A4=擦除计数总计
A5=最大擦除计数
A6=最小擦除计数
A7=平均擦除次数
A8=Spec 最大擦除次数
A9=剩余寿命
AF=程序失败计数最差值
B0=擦除失败计数最差值
B1=磨损程度总计
B2=运行中的无效块计数
B5=编程失败计数
B6=擦除失败计数
BB=无法校正错误计数
C0=断电重启计数
C2=温度
C3=硬件 ECC 已修复错误计数
C4=重新分配扇区物理位置事件计数(与坏块有关)
C5=当前等待中扇区数
C6=离线无法修正的错误计数
C7=Ultra DMA CRC 错误计数
E8=可用保留空间
F1=LBA 写入总计
F2=LBA 读取总计
F5=闪存写入扇区计数

[SmartJMicron66x]
01=读取错误率
02=吞吐性能
03=起转时间
05=重新分配扇区计数
07=寻址错误率
08=寻址时间性能
09=通电时间
0A=起转重试次数
0C=启动-关闭循环次数
A8=SATA 物理层错误计数
AA=坏块计数
AD=擦除计数
AF=坏簇表计数
B4=备用块计数
C0=意外断电计数
C2=温度
C5=当前等待中扇区数
E7=使用寿命
E9=写入扇区计数(NAND)
F0=写磁头
F1=主机总写入
F2=主机总读取

[SmartPhison]
01=读取错误率
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
A8=SATA 物理层错误计数
AA=坏块计数
AD=擦除计数
C0=意外断电计数
C2=温度
DA=CRC 错误计数
E7=SSD 剩余寿命
F1=主机写入

[SmartSeagate]
01=读取错误率
05=老化的扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
10=可用备用块
11=剩余备用块
A8=SATA 物理层错误计数
AA=坏块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AD=擦除计数
AE=意外断电计数
B1=磨损范围增量
B5=编程失败计数
B6=擦除失败计数
C0=意外断电计数
C2=温度
C9=软错误率 
CC=软 ECC 校正率
DA=CRC 错误计数
E7=SSD 剩余寿命
E8=读取失败块数
E9=NAND GiB 写入
EA=全周期闪存写入
EB=NAND 扇区写入
F1=全周期主机写入
F2=全周期主机读取
FA=全周期 NAND 读取老化

[SmartSeagateIronWolf]
01=原始读取错误率
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
64=闪存已擦除GB数
66=全周期PS4入口计数
67=全周期PS3出口计数
AA=Grown 坏块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AD=平均编程/擦除(P/E)计数
AE=意外断电计数
B1=磨损范围增量
B7=SATA/PCIe 接口性能降级计数
BB=无法修正 ECC 计数
C2=温度
C3=提高ECC修正计数
C6=无法修正读取错误计数
C7=SATA R-错误(CRC)错误计数
E6=寿命保护状态
E7=SSD 剩余寿命
E8=可用保留空间
E9=全周期闪存写入
F1=全周期主机写入
F2=全周期主机读取
F3=空闲空间

[SmartMarvell] ; Added 8.8.3
05=新增坏块数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
A4=擦除计数总计
A5=最大擦除计数
A6=最小擦除计数
A7=平均擦除次数
C0=断电重启计数
C2=温度
C7=SATA CRC 错误计数
F1=主机总写入
F2=主机总读取

[SmartMaxiotek] ; Added 8.8.6
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=通电循环计数
A7=固态硬盘保护模式
A8=物理层错误计数
A9=坏块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AD=擦除计数
AF=坏簇表计数
B1=读取重试计数
B4=剩余备用块计数
BB=报告的UNC错误
C0=意外断电计数
C2=温度
C4=重新分配事件计数
C7=UDMA CRC 错误计数
CE=最小擦除计数
CF=最大擦除计数
D0=平均擦除次数
D1=SLC块最小擦除计数
D2=SLC块最大擦除计数
D3=SLC 平均擦除次数
E7=SSD 剩余寿命
E9=扇区到Nand写入计数
EA=扇区从Nand读取计数
F1=写入扇区计数
F2=读取扇区计数
F5=Bit 错误计数

[SmartSeagateBarraCuda] ; Added 8.9.0
01=UECC Error Count
05=老化的扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
10=可用备用块
11=剩余备用块
A8=SATA 物理层错误计数
AA=坏块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AD=擦除计数
AE=意外断电计数
B1=磨损范围增量
B5=编程失败计数
B6=擦除失败计数
C0=意外断电计数
C2=温度
C9=软错误率 
CC=软 ECC 校正率
DA=CRC 错误计数
E7=SSD 剩余寿命
E8=读取失败块数
E9=NAND GiB 写入
EA=全周期闪存写入
EB=NAND 扇区写入
F1=全周期主机写入
F2=全周期主机读取
FA=全周期 NAND 读取老化

[SmartYmtc] ; Added 8.10.0
05=新的坏块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
AA=最大坏块计数
A8=SATA 物理层错误计数
A9=坏块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AD=擦除计数
AF=坏簇表计数
B7=SATA 接口性能降级计数
B8=端到端错误检测/校正计数
BB=无法校正错误计数
BE=温度
C0=意外断电计数
C4=重新分配的事件计数
C7=CRC 错误计数
CE=最小擦除计数
CF=最大擦除计数
D0=平均擦除次数
D1=SLC 最小擦除计数
D2=SLC 最大擦除计数
D3=SLC 平均擦除计数
E7=SSD 剩余寿命
E9=向NAND写入扇区计数
EA=从NAND读取扇区计数
F1=主机总写入
F2=主机总读取
F3=NAND 温度
F5=Bit 错误计数