[Language]
LANGUAGE=正體中文
CHARACTER_CODE=Unicode (UTF-16, LE, w/ BOM)
LOCALE_ID=0x0404, 0x0C04, 0x1404, 0x7C04

[Url]
WIKIPEDIA_SMART=http://en.wikipedia.org/wiki/Self-Monitoring%2C_Analysis_and_Reporting_Technology

[DiskStatus]
GOOD=良好
CAUTION=警告
BAD=不良
UNKNOWN=未知
DISK=磁碟

[Smart]
UNKNOWN=未知
VENDOR_SPECIFIC=特定廠商
01=底層資料讀取錯誤率
02=讀寫通量效能
03=碟片啟動時間
04=馬達啟動關閉次數
05=重定位磁區計數
06=信道讀取餘量
07=尋道錯誤率
08=尋道效能
09=總通電時間
0A=啟動重試次數
0B=磁頭校準重試
0C=開關電源次數
0D=軟體讀取錯誤率評估
16=目前氦氣等級
B8=終端校驗出錯
BB=報告不可糾正錯誤
BC=通訊超時
BD=磁頭寫入高度
BE=氣流溫度
BF=加速度錯誤率
C0=電源關閉磁頭收回計數
C1=載入/卸載迴圈計數
C2=硬碟溫度
C3=硬體錯誤修正編碼復原
C4=重定位事件計數
C5=等候重定的磁區計數
C6=無法校正的磁區計數
C7=UltraDMA 高速傳輸模式錯誤次數
C8=寫入錯誤率
C9=邏輯讀取錯誤率
CA=資料位址標記錯誤
CB=用完取消
CC=邏輯 ECC 糾正
CD=過溫率
CE=磁頭飛行高度
CF=主軸電機浪涌電流計數
D0=旋轉蜂鳴
D1=離線定址效能
D3=寫入時的震動
D4=寫入時的衝擊
DC=盤體偏移
DD=加速計出錯率
DE=資料載入時間
DF=載入/卸載重試次數
E0=負載摩擦
E1=載入/卸載迴圈計數
E2=磁頭載入時間
E3=扭矩放大計數
E4=斷電縮回周期
E6=巨磁阻式磁頭振幅
E7=硬碟溫度
F0=磁頭飛行時間
FA=讀取錯誤重試率
FE=自由跌落保護
;Updated 5.4.0
F1=對 SSD 累計寫入
F2=對 SSD 累計讀取

[SmartSsd]
01=底層資料讀取錯誤率
02=讀寫通量效能
03=碟片啟動時間
04=馬達啟動關閉次數
05=重定位磁區計數
06=信道讀取餘量
07=尋道錯誤率
08=尋道效能
09=總通電時間
0A=啟動重試次數
0B=磁頭校準重試
0C=關閉電源次數
0D=軟體讀取錯誤率評估 
C0=不安全關機次數
C2=硬碟溫度
C4=重定位事件計數
C5=等候重定的磁區計數
C6=無法校正的磁區計數
; CrystalDiskInfo assign
FF=剩餘壽命

;Updated 5.4.0
F1=對 SSD 累計寫入
F2=對 SSD 累計讀取

[SmartMtron]
BB=抹除次數總計

[SmartIndlinx]
01=底層資料讀取錯誤率
09=總通電時間
0C=關閉電源次數
B8=初始損壞磁區數
C2=硬碟溫度
C3=程式失敗磁區數
C4=抹除失敗磁區數
C5=讀取失敗磁區數
C6=讀取磁區總數
C7=寫入磁區總數
C8=讀取命令總數
C9=寫入命令總數
CA=來自 Flash 的錯誤位元總數
CB=包含可校正位元錯誤的讀取磁區總數
CC=損壞磁區完整旗標
CD=最大 PE 次數規格
CE=最小抹除次數
CF=最大抹除次數
D0=平均抹除次數
D1=磁碟剩餘壽命

[SmartJMicron60x]
09=總通電時間
0C=關閉電源次數
C2=硬碟溫度
E5=停止系統 ID, Flash ID
E8=韌體版本資訊
E9=ECC 失敗記錄
EA=平均抹除次數，最大抹除次數
EB=良好磁區數，系統磁區數

[SmartIntel]
03=碟片啟動時間
04=馬達啟動關閉次數
05=重定位磁區計數
09=總通電時間
0C=關閉電源次數
AA=可用的保留空間
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AE=意外電源中斷
AF=電源中斷保護故障
B7=SATA 降級執行計數
B8=終端校驗出錯偵測次數
BB=無法校正的錯誤次數
BE=硬碟溫度
C0=不安全關機次數
C2=硬碟溫度
C5=等候重定的磁區計數
C7=高速傳輸模式錯誤次數
E1=對 SSD 累計寫入
E2=一定時間內的磨損比例
E3=讀寫比例
E4=單次測試時間
E8=可用的保留空間
E9=介質耗損指標
EA=熱節流狀態
F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
F9=NAND 累計寫入
[SmartSamsung] ;Updated 6.6
05=重定位磁區計數
09=總通電時間
0C=通電次數
AF=程式失敗次數(晶片)
B0=抹除失敗次數(晶片)
B1=顆粒平均擦寫次數
B2=已使用的保留空間數(晶片)
B3=已使用的保留空間數(總計)
B4=未使用的保留空間數(總計)
B5=程式失敗次數(總計)
B6=抹除失敗次數(總計)
B7=執行階段損壞磁區(總計)
BB=無法校正的錯誤次數
BE=氣流溫度
C2=硬碟溫度
C3=ECC 錯誤率
C6=離線無法校正錯誤次數
C7=高速傳輸模式錯誤次數
C9=超級電容狀態
CA=SSD 模式狀態
EB=POR 復原次數
F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數

;Added 6.6
AA=未使用的保留空間數(晶片) 
AB=程式失敗次數(晶片)
AC=抹除失敗次數(晶片)
AD=顆粒平均擦寫次數
AE=未預期的電源中斷次數
B8=出錯偵測
E9=正常媒體耗損

[SmartSandForce] ;Updated 3.7.0
01=原始讀取錯誤率
05=已淘汰區塊數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
0D=軟體讀取錯誤率
64=GB 已抹除
AA=保留區塊數量
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AE=未預期的電源中斷次數
B1=耗損範圍差異
B5=程式失敗次數
B6=抹除失敗次數
B8=報告 I/O 錯誤檢測代碼錯誤
BB=報告不可糾正錯誤
C2=硬碟溫度
C3=ECC 運作中不可糾正錯誤次數
C4=重定位事件計數
C6=無法校正的磁區總數
C7=SATA R-Errors 錯誤次數
C9=無法校正的軟體讀取錯誤率
CC=邏輯 ECC 校正率
E6=壽命曲線狀態
E7=SSD 壽命剩下
E8=可用的保留空間
EB=SuperCap 健康情況
F1=寫入壽命
F2=讀取壽命
[SmartJMicron61x] ;Added 3.9.0
01=底層資料讀取錯誤率
02=讀寫通量效能
03=碟片啟動時間
05=重定位磁區計數
07=尋道錯誤率
08=尋道效能
09=總通電時間
0A=啟動重試次數
0C=開關電源次數
A8=SATA PHY 錯誤次數
AF=損壞叢集表數(錯誤自動檢查與更正(ECC)失敗次數)
C0=未預期的電源中斷次數
C2=硬碟溫度
C5=等候重定的磁區計數
AA=損壞區塊數
AD=抹除次數

[SmartMicron] ;Added 4.0.0/ Updated 6.6.0
; RAIN = Redundant Array of Independent NAND
01=原始讀取錯誤率
05=重定位磁區計數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
0D=軟體錯誤率
0E=裝置容量(NAND)
0F=使用者容量
10=可用的備用區塊
11=剩餘的備用區塊
64=總計抹除計數
AA=保留區塊數
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AD=區塊平均抹除次數
AE=未預期的電源中斷次數
B4=未使用的保留 NAND 區塊
B5=非實體對齊頁面存取次數
B7=SATA 介面降級
B8=錯誤校正次數
BB=報告不可糾正錯誤
BC=通訊超時次數
BD=出廠時的壞區塊數
C2=硬碟溫度
C3=累計校正過的 ECC
C4=重定位事件計數
C5=等候重定的磁區計數
C6=Smart 離線掃瞄無法校正的錯誤次數
C7=UltraDMA 高速傳輸模式錯誤率
CA=已使用的壽命百分比
CE=寫入錯誤率
D2=成功 RAIN 復原次數
EA=已讀取的位元組總數
F2=防寫保護進度
F3=ECC 位元校正
F4=ECC 累計臨界值事件
F5=累計程式 NAND 頁
F6=總計主機磁區寫入
F7=主機程式頁面計數
F8=FTL 程式頁面計數

[SmartMicronMU02] ;Updated 6.6.0
; RAIN = Redundant Array of Independent NAND
01=原始讀取錯誤率
05=重定位磁區計數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
0D=軟體錯誤率
0E=裝置容量(NAND)
0F=使用者容量
10=可用的備用區塊
11=剩餘的備用區塊
64=總計抹除計數
AA=保留區塊數
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AD=區塊平均抹除次數
AE=未預期的電源中斷次數
B4=未使用的保留 NAND 區塊
B7=SATA 介面降級
B8=錯誤校正次數
BB=報告不可糾正錯誤
BC=通訊超時次數
BD=出廠時的壞區塊數
C2=硬碟溫度
C3=累計校正過的 ECC
C4=重定位事件計數
C5=等候重定的磁區計數
C6=Smart 離線掃瞄無法校正的錯誤次數
C7=UltraDMA 高速傳輸模式錯誤率
CA=已使用的壽命百分比
CE=寫入錯誤率
D2=成功 RAIN 復原次數
EA=已讀取的位元組總數
F3=ECC 位元校正
F4=ECC 累計臨界值事件
F5=累計程式 NAND 頁
F6=總計主機磁區寫入
F7=主機程式頁面計數
F8=FTL 程式頁面計數
; Updated 6.6.0
A0=無法糾正的磁區計數
A1=有效的備用區塊
A3=初始無效區塊
94=總計 SLC 抹除次數 
95=最大 SLC 抹除次數 
96=最小 SLC 抹除次數 
97=平均 SLC 抹除次數 
A4=總計 TLC 抹除次數 
A5=最大 TLC 抹除次數 
A6=最小 TLC 抹除次數 
A7=平均 TLC 抹除次數 
A9=剩餘壽命百分比 
B5=程式失敗次數 
B6=抹除失敗次數 
C0=電源關閉磁頭收回計數 
E8=可用的保留空間 
F1=總計 LBA 寫入 
F2=總計 LBA 讀取 
F5=總計 TLC 寫入次數 
F6=總計 SLC 寫入次數 
F7=RAID 復原次數 
[SmartOcz] ;Added 4.5.0
01=原始讀取錯誤率
03=碟片啟動時間
04=馬達啟動關閉次數
05=重定位磁區計數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
C2=外殼溫度
E8=寫入磁區總數
E9=剩餘壽命

; Added 6.6.0
64=總計區塊已抹除
A7=SSD 保護模式
A8=SATA PHY 錯誤計數
A9=損壞區塊數
AD=抹除次數
B8=工廠損壞區塊數
C0=未預期的電源中斷次數
CA=修正位元總數
CD=最大額定 PE 計數
CE=最小抹除次數
CF=最大抹除次數
D3=SATA 無法校正的錯誤次數
D4=重試期間的 NAND 頁讀取
D5=簡單讀取重試次數
D6=自我調整讀取重試次數
DD=內部資料路徑無法校正的錯誤
DE=RAID 復原次數
E6=電源中斷保護
FB=NAND 讀取次數
;Updated 6.7.0
F1=對 SSD 累計寫入
F2=對 SSD 累計讀取
[SmartPlextor] ;Added 5.1.0
01=底層資料讀取錯誤率
05=重定位磁區計數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
C0=不安全關機次數
C2=外殼溫度
C4=重定位事件計數
C6=無法校正的磁區總數
F1=對 SSD 累計寫入
F2=對 SSD 累計讀取

;Updated 5.4.0
B1=顆粒平均擦寫次數
B2=已使用的保留區塊數(最遭狀況)
B5=程式失敗次數(總計)
B6=抹除失敗次數(總計)
BB=無法校正的錯誤次數
C7=Ultra 高速傳輸模式錯誤次數
E8=可用的保留空間

;Added 6.2.0
AA=增長的損壞區塊
AB=程式失敗次數(總計)
AC=抹除失敗次數(總計)
AD=平均程式/抹除次數(總計)
AE=未預期的電源中斷次數
AF=程式失敗次數(最糟狀況)
B0=抹除失敗次數(最糟狀況)
B3=已使用的保留區塊數(總計)
B4=未使用的保留區塊數(總計)
B7=SATA 介面降級
B8=終端校驗資料出錯已校正
BC=通訊超時
C3=ECC 錯誤率
E9=NAND GB 已寫入

[SmartSanDisk] ;Added 5.2.0
05=已淘汰區塊數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
AA=保留區塊數量
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AD=平均寫入/抹除次數
AE=未預期的電源中斷次數
BB=報告不可糾正錯誤
C2=外殼溫度
E6=寫入/抹除次數總計百分比
E8=剩餘壽命
EA=寫入/抹除次數總計百分比 (BC 區塊)
F1=對 SSD 累計寫入
F2=對 SSD 累計讀取

[SmartOczVector] ;Added 5.3.0
05=累計執行階段損壞磁區
09=總通電時間
0C=開關電源次數
AB=可用超額提供的區塊數
AE=開關電源次數(尚未計畫)
BB=無法校正的 NAND 讀取累計
C2=外殼溫度
C3=規劃失敗累計
C4=抹除失敗累計
C5=讀取失敗累計(無法校正)
C6=對 SSD 讀取
C7=對 SSD 寫入
D0=平均抹除次數
D2=SATA 高速傳輸模式錯誤次數
E9=剩餘壽命
F9=NAND 規劃次數累計

;Updated 5.5.0
F1=對 SSD 累計寫入
F2=對 SSD 累計讀取

;Updated 6.6.0
64=總計區塊已抹除
B8=工廠損壞區塊數總計
CA=讀取位元修正總數
CD=最大額定 PE 計數
CE=最小抹除次數
CF=最大抹除次數
D4=需要讀取重試的 NAND 頁讀取總次數
D5=簡單讀取重試次數總次數
D6=自我調整讀取重試次數總次數
DD=內部資料路徑保護無法校正的錯誤
DE=RAID 復原次數
E0=在保修期內
E1=DAS 極性
E2=部份 Pfail
E6=寫入限制啟用標誌
F9=NAND 規劃次數累計(頁)
FB=NAND 讀取次數總計
[SmartCorsair] ;Added 6.2.0
01=原始讀取錯誤率
05=已淘汰區塊數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
AA=保留區塊數量
AC=抹除失敗次數
AE=未預期的電源中斷次數
B5=程式失敗次數
BB=無法校正的錯誤報告
C2=外殼溫度
C4=重定位事件計數
E7=SSD 壽命剩下
F1=壽命 GB 寫入
F2=壽命 GB 讀取

[SmartToshiba] ;Added 6.2.0
01=底層資料讀取錯誤率
02=讀寫通量效能
03=碟片啟動時間
04=馬達啟動關閉次數
05=重定位磁區計數
07=尋道錯誤率
08=尋道效能
09=總通電時間
0A=啟動重試次數
0B=磁頭校準重試
0C=關閉電源次數
A7=SSD 保護模式
A8=SATA PHY 錯誤次數
A9=損壞區塊數總計
AD=抹除次數
C0=未預期的電源中斷次數
C2=硬碟溫度
C4=重定位事件計數
C5=等候重定的磁區計數
C6=無法校正的磁區計數
F1=對 SSD 累計寫入
F2=對 SSD 累計讀取

[SmartSanDiskGb] ;Added 6.2.0
01=底層資料讀取錯誤率
05=重定位區塊計數
09=總通電時間
0C=關閉電源次數
A5=區塊抹除次數 (SLC)
A6=最小 W/E 週期
A7=最大損壞區塊/晶粒
A8=最大抹除週期
A9=損壞區塊總計
AA=成長的損壞區塊
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AD=平均抹除週期
AE=未預期的電源中斷次數
B8=終端校驗出錯偵測/校正次數
BB=報告不可糾正錯誤
BC=通訊超時次數
C2=硬碟溫度
C7=高速傳輸模式錯誤次數
D4=SATA PHY 錯誤
E6=總計 P/E 計數百分比
E7=SSD 壽命剩下
E8=備用區塊剩餘
E9=總計 GB 寫入 NAND
EA=總計 GB 寫入 NAND (SLC)
EE=介質耗損指標 (剩餘週期)
F1=總計 GB 寫入
F2=總計 GB 讀取
F4=溫度節流狀態
F9=NAND GB 已寫入
[SmartKingston] ;Added 6.6.0
;https://media.kingston.com/support/downloads/MKP_521_Phison_SMART_attribute.pdf
01=底層資料讀取錯誤率
02=讀寫通量效能
03=碟片啟動時間
05=重定位磁區計數
07=尋道錯誤率
08=尋道效能
09=總通電時間
0A=啟動重試次數
0C=關閉電源次數
A8=SATA PHY 錯誤次數
AA=損壞區塊數
AD=抹除次數
AF=損壞叢集表數
BB=不可糾正錯誤
C0=不安全關機次數
C2=硬碟溫度
C4=後來損壞區塊計數
C5=等候重定的磁區計數
C7=CRC 錯誤次數
DA=CRC 錯誤次數
E7=SSD 壽命剩下
E9=寫入快閃記憶體的壽命
F0=磁性寫頭
F1=主機寫入
F2=主機讀取
F4=平均抹除次數
F5=最大抹除次數
F6=總計抹除次數
[SmartNVMe] ;Added 6.7.0
01=嚴重警告
02=綜合溫度
03=可用備用
04=可用的備用臨界值
05=使用的百分比
06=資料單位已讀取
07=資料單位已寫入
08=主機讀取命令
09=主機寫入命令
0A=控制器繁忙時間
0B=關閉電源
0C=總通電時間
0D=不安全關機
0E=媒體和資料完整性錯誤
0F=錯誤資訊記錄項目數

[SmartRealtek] ;Added by Realtek
01=原始值錯誤率
05=重定位磁區計數
09=總通電時間計數
0C=關閉電源計數
A1=GDN
A2=總抹除次數
A3=最大 PE 循環
A4=平均抹除次數
A5=初始化壞塊計數
A6=總壞塊計數
A7=SSD 保護模式
A8=SATA Phy 錯誤計數
A9=健康狀態
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AE=未預期的電源中斷次數
AF=ECC 失敗次數
B5=非實體對齊頁面存取次數
BB=報告不可糾正錯誤
C2=外殼溫度
C3=累積校正 ecc
C4=重定位事件計數
C7=Ultra DMA CRC 錯誤次數
CE=最小抹除次數
CF=最大抹除次數
E7=剩餘壽命
E8=可用的保留空間
F1=寫入壽命時間
F2=讀取壽命時間
F9=寫入 NAND 的總 GB
FA=寫入 NAND 的總 GB (SLC)

[SmartSKhynix] ; Updated 8.8.0
01=底層資料讀取錯誤率
05=重新分配的磁區計數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
64=抹除次數總計
A8=最小抹除次數
A9=最大抹除次數
AA=保留區塊數量
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AE=未預期的電源中斷次數
AF=程式失敗次數(最遭狀況)
B0=抹除失敗次數(最遭狀況)
B1=顆粒平均擦寫次數
B2=已使用的保留空間數(最遭狀況)
B3=已使用的保留空間數(SSD 總計)
B4=未使用的保留空間數(SSD 總計)
B5=程式失敗次數(SSD 總計)
B6=抹除失敗次數(SSD 總計)
B7=SATA 降級執行計數
B8=終端校驗出錯偵測次數
BB=無法校正的錯誤次數
BC=通訊超時次數
BF=操作衝擊事件計數
C2=硬碟溫度
C3=ECC 錯誤率
C4=重定位事件計數
C6=無法校正的磁區計數
C7=高速傳輸模式錯誤次數
C9=無法校正的軟體讀取錯誤率
CC=邏輯 ECC 校正率
D4=Phy 錯誤次數
E7=SSD 壽命剩下
E9=SSD 壽命剩下
EA=NAND 已寫入
F1=對 SSD 累計寫入
F2=對 SSD 累計讀取
FA=NAND 讀取重試次數總數
[SmartKioxia] ; Added ８．８．０
09=總通電時間
0C=裝置開關電源次數
A7=SSD 保護模式
A8=SATA Phy 錯誤次數
A9=損壞區塊數
AD=抹除次數 (使用者資料)
C0=未預期的電源中斷次數
C2=硬碟溫度
F1=對 SSD 累計寫入

[SmartWdc] ; Added ８．８．０
01=底層資料讀取錯誤率
05=已淘汰區塊數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
A5=區塊抹除次數 (SLC)
A6=最小 P/E 週期
A7=最大損壞區塊/晶粒
A8=最大 P/E 週期
A9=損壞區塊總計
AA=增長的損壞區塊
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AD=平均 P/E 週期
AE=未預期的電源中斷次數
B8=終端校驗出錯偵測/校正次數
BB=報告不可糾正錯誤
BC=通訊超時次數
C2=硬碟溫度
C7=高速傳輸模式錯誤次數
D4=SATA PHY 錯誤
E6=介質耗損指標
E8=可用保留空間
E9=總計 GB 寫入 NAND
EA=總計 GB 寫入 NAND (SLC)
EE=介質耗損指標 (剩餘週期)
F1=總計 GB 寫入
F2=總計 GB 讀取
F4=硬碟溫度節流狀態
F9=NAND GB 已寫入

[SmartKingstonSuv]
; https://media.kingston.com/support/downloads/UV400-SMART-attribute.pdf
; https://media.kingston.com/support/downloads/UV500_SMART_attribute.pdf
01=底層資料讀取錯誤率
05=重定位磁區計數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
AA=已使用的保留空間數
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AE=意外電源關閉次數
AF=程式失敗次數最差晶粒
B0=抹除失敗次數最差晶粒
B1=顆粒平均擦寫次數
B2=已使用的保留空間數最差晶粒
B4=未使用的保留空間數 (SSD 總計)
BB=報告不可糾正錯誤
C2=硬碟溫度
C3=ECC 運作中錯誤次數
C4=重定位事件計數
C5=等候重定的磁區計數
C7=UDMA 高速傳輸模式錯誤次數
C9=不可糾正底層資料讀取錯誤率
CC=邏輯 ECC 校正率
E7=SSD 壽命剩下
EA=Nand 寫入壽命
F1=主機寫入壽命
F2=主機讀取壽命
FA=NAND 讀取重試總數

[SmartKingstonKC600]
;https://media.kingston.com/support/downloads/KC600-SMART-attribute.pdf
01=底層資料讀取錯誤率
05=重定位 NAND 區塊計數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
94=保留
95=保留
96=保留
97=SLC 平均抹除次數
9F=DRAM 1 位元錯誤次數
A0=報告 UECC (不可糾正) 錯誤
A1=可用的保留空間
A4=保留
A5=保留
A6=保留
A7=平均抹除次數
A8=保留
A9=額定剩餘壽命的百分比
B1=保留
B5=程式失敗次數
B6=抹除失敗次數
C0=未預期的電源中斷次數
C2=裝置硬碟溫度
C3=硬體錯誤修正編碼復原
C4=重定位事件計數
C7=UDMA 高速傳輸模式錯誤次數
E7=額定剩餘壽命的百分比
E8=Un已使用的保留空間數
F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
F5=媒體寫入總數

[SmartKingstonDC500]
;https://media.kingston.com/support/pdf/MKP_521-7_SMART-DC500_attribute_hr.pdf
01=主機 UNC 錯誤次數
09=總通電時間
0C=電源開/關週期
A7=保護模式
A8=SATA Phy 錯誤次數
A9=損壞磁區率
AA=損壞磁區資訊
AC=抹除失敗次數
AD=抹除次數
B5=程式失敗次數
B6=抹除失敗次數
BB=主機 UNC 錯誤次數
C0=未預期的電源中斷次數
C2=硬碟溫度
C4=以後損壞區塊數總計
C7=高速傳輸模式錯誤次數
CF=熱節流計數
DA=高速傳輸模式錯誤次數
E7=剩餘 SSD 使用壽命
E8=讀取失敗次數
E9=NAND 寫入
F1=主機寫入
F2=主機讀取
F4=平均抹除次數
F5=最大抹除次數
F6=抹除次數總計

[SmartKingstonSA400]
;https://github.com/hiyohiyo/CrystalDiskInfo/issues/20
01=不可糾正錯誤
09=總通電時間
0C=關閉電源
94=廠商特有
95=廠商特有
A7=廠商特有
A8=SATA Phy 錯誤次數
A9=廠商特有
AA=損壞區塊數
AC=廠商特有
AD=抹除次數
B5=廠商特有
B6=廠商特有
BB=不可糾正 ECC 錯誤
C2=硬碟溫度
C4=重定位事件
C7=SATA CRC 錯誤
DA=高速傳輸模式錯誤次數
E7=SSD 磨損指示器
E9=Nand 寫入壽命
F1=寫入壽命
F2=讀取壽命
F4=平均抹除次數
F5=Max 抹除次數
F6=Total 抹除次數

[SmartSsstc]
01=Raw 底層資料讀取錯誤率
05=重定位區塊數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
AA=可用的保留空間
AB=程式失敗次數(總計)
AC=抹除失敗次數(總計)
AD=平均程式/抹除次數
AE=未預期的電源中斷次數
AF=程式失敗次數 (最遭狀況)
B0=抹除失敗次數 (最遭狀況)
B1=顆粒平均擦寫次數
B2=已使用的保留空間數 (最遭狀況)
B3=已使用的保留空間數 (總計)
B4=Un已使用的保留空間數 (總計)
B7=SATA 介面降級
B8=終端校驗資料出錯次數
BB=無法校正的錯誤次數
BC=通訊超時
C2=硬碟溫度
C3=ECC 錯誤率
C6=離線無法校正的錯誤次數
C7=SATA 高速傳輸模式錯誤次數
E5=電源中斷保護故障
E7=剩餘壽命百分比
E8=可用的保留空間 
E9=總計 GB 寫入 NAND
F1=總計主機寫入
F2=總計主機讀取 
F3=NAND GB 已寫入

[SmartIntelDc]
;https://github.com/hiyohiyo/CrystalDiskInfo/issues/18
01=原始讀取錯誤次數
05=重定位 Flash 區塊計數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
0E=裝置容量
0F=使用者容量
10=可用的備用區塊
11=可用的剩餘備用
AC=區塊抹除失敗總計
AD=每個區塊最大抹除次數
AE=未預期的電源中斷次數
AF=平均抹除次數
B0=電源中斷保護錯誤
B5=區塊程式失敗總計
B8=終端校驗出錯偵測次數
BB=無法校正的錯誤次數
C2=硬碟溫度
C5=等候重定的磁區計數
C6=離線無法校正的錯誤次數
C7=高速傳輸模式錯誤次數
CA=使用的磁碟壽命百分比
E2=一定時間內的磨損比例
E3=讀寫比例
E4=單次測試時間
EA=主機位元組讀取總數
EB=主機位元組/磁區寫入總數
F1=Nand 位元組/磁區寫入總數

[SmartApacer]
09=總通電時間
0C=開關電源次數
A3=最大抹除次數
A4=平均抹除次數
A6=之後損壞區塊數總計
A7=SSD 保護模式
A8=SATA Phy 錯誤次數
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AF=損壞叢集表數
C0=未預期的電源中斷次數
C2=硬碟溫度
E7=剩餘壽命
F1=總計磁區寫入

[SmartSiliconMotion]
01=底層資料讀取錯誤率
05=重定位磁區計數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
94=SLC 總計抹除次數
95=SLC 最大抹除次數
96=SLC 最小抹除次數
97=SLC 平均抹除次數
9F=DRAM 1 位元錯誤次數
A0=讀取/寫入時的不可糾正磁區計數
A1=有效的備用區塊數
A2=快取資料區塊數
A3=初始無效區塊數
A4=總計抹除次數
A5=最大抹除次數
A6=最小抹除次數
A7=平均抹除次數
A8=規格的最大抹除次數
A9=剩餘壽命
AF=最差晶粒中的程式失敗次數
B0=最差晶粒中的抹除失敗次數
B1=顆粒平均擦寫次數總計
B2=執行階段無效區塊計數
B5=程式失敗次數總計
B6=抹除失敗次數總計
BB=無法校正的錯誤次數
C0=電源關閉磁頭收回計數
C2=硬碟溫度
C3=硬體錯誤修正編碼復原
C4=重定位事件計數
C5=等候重定的磁區計數
C6=無法校正的錯誤次數離線
C7=Ultra DMA 高速傳輸模式錯誤次數
E8=可用的保留空間
F1=對 SSD 累計寫入
F2=對 SSD 累計讀取
F5=Flash 寫入磁區計數

[SmartJMicron66x]
01=底層資料讀取錯誤率
02=讀寫通量效能
03=碟片啟動時間
05=重定位磁區計數
07=尋道錯誤率
08=尋道效能
09=總通電時間
0A=啟動重試次數
0C=開關電源次數
A7=SSD 保護模式
A8=SATA Phy 錯誤次數
AA=損壞區塊數
AD=抹除次數
AF=損壞叢集表數
B4=備用區塊計數
C0=未預期的電源中斷次數
C2=硬碟溫度
C5=等候重定的磁區計數
E7=磁碟壽命
E9＝寫入磁區計數 (NAND)
F0=磁性寫頭
F1=對 SSD 累計寫入
F2=對 SSD 累計讀取

[SmartPhison]
01=底層資料讀取錯誤率
09=總通電時間
0C=開關電源次數
A8=SATA Phy 錯誤次數
AA=損壞區塊數
AD=抹除次數
C0=未預期的電源中斷次數
C2=硬碟溫度
DA=CRC 錯誤數
E7=SSD 壽命剩下
F1=對 SSD 累計寫入

[SmartSeagate]
; https://crystalmark.info/board/c-board.cgi?cmd=one;no=1818;id=#1818
01=底層資料讀取錯誤率
05=已淘汰磁區數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
10=可用的備用區塊
11=剩餘的備用區塊
A8=SATA Phy 錯誤次數
AA=損壞區塊數
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AD=抹除次數
AE=未預期的電源中斷次數
B1=耗損範圍差異
B5=程式失敗次數
B6=抹除失敗次數
C0=未預期的電源中斷次數
C2=硬碟溫度
C9=軟體錯誤率
CC=邏輯 ECC 校正率
DA=高速傳輸模式錯誤次數
E7=SSD 壽命剩下
E8=讀取失敗磁區數
E9=NAND GiB 已寫入
EA=寫入快閃記憶體的壽命
EB=NAND 磁區已寫入
F1=寫入壽命
F2=讀取壽命
FA=NAND 讀取重試壽命

[SmartSeagateIronWolf]
; https://www.seagate.com/jp/ja/internal-hard-drives/ssd/ironwolf-nas-ssd/#specs
01=Raw 底層資料讀取錯誤率
05=重定位磁區計數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
64=已抹除的快閃記憶體千兆位元組
66=PS4 項目計數壽命
67=PS3 結束計數壽命
AA=增長的損壞區塊數
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AD=平均程式/抹除次數
AE=未預期的電源中斷次數
B1=耗損範圍差異
B7=SATA/PCIe 介面降級執行計數
BB=不可糾正的 ECC 計數
C2=硬碟溫度
C3=RAISE ECC 可糾正計數
C6=不可糾正的讀取錯誤計數
C7=SATA R-Error (CRC) 錯誤計數
E6=磁碟壽命保護狀態
E7=SSD 壽命剩下
E8=可用的保留空間
E9=寫入快閃記憶體的壽命
F1=寫入壽命
F2=讀取壽命
F3=可用空間

[SmartMarvell] ; Added 8.8.3
05=新的損壞區塊數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
A4=抹除次數總計
A5=最大抹除次數
A6=最小抹除次數
A7=平均抹除次數
C0=關閉電源縮回計數
C2=硬碟溫度
C7=SATA 高速傳輸模式錯誤次數
F1=總計寫入
F2=總計讀取

[SmartMaxiotek] ; Added 8.8.6
05=重定位磁區計數
09=總通電時間
0C=磁碟開關電源次數
A7=SSD 保護模式
A8=Phy 錯誤次數
A9=損壞區塊數
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AD=抹除次數
AF=損壞叢集表數
B1=讀取重試次數
B4=剩餘備用區塊數
BB=報告的 UNC 錯誤
C0=未預期的電源中斷次數
C2=硬碟溫度
C4=重定位事件計數
C7=UDMA 高速傳輸模式錯誤次數
CE=最小抹除次數
CF=最大抹除次數
D0=平均抹除次數
D1=SLC 區塊的最小抹除次數
D2=SLC 區塊的最大抹除次數
D3=SLC 區塊的平均抹除次數
E7=SSD 壽命剩下
E9=將計數磁區寫入 Nand
EA=從 Nand 讀取計數磁區
F1=寫入磁區計數
F2=讀取磁區計數
F5=位元錯誤計數

[SmartSeagateBarraCuda] ; Added 8.9.0
01=UECC 錯誤次數
05=已淘汰磁區數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
10=可用的備用區塊
11=剩餘的備用區塊
A8=SATA Phy 錯誤次數
AA=損壞區塊數
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AD=抹除次數
AE=未預期的電源中斷次數
B1=耗損範圍差異
B5=程式失敗次數
B6=抹除失敗次數
C0=未預期的電源中斷次數
C2=硬碟溫度
C9=軟體錯誤率
CC=邏輯 ECC 校正率
DA=高速傳輸模式錯誤次數
E7=SSD 壽命剩下
E8=讀取失敗磁區數
E9=NAND GiB 已寫入
EA=寫入快閃記憶體的壽命
EB=NAND 磁區已寫入
F1=寫入壽命
F2=讀取壽命
FA=NAND 讀取重試壽命

[SmartYmtc] ; Added 8.10.0
05=新的損壞區塊數
09=總通電時間
0C=開關電源次數
AA=最大損壞區塊數
A8=SATA PHY 錯誤次數
A9=損壞區塊數
AB=程式失敗次數
AC=抹除失敗次數
AD=抹除次數
AF=損壞叢集計數
B7=SATA 介面降級
B8=終端校驗出錯偵測/校正次數
BB=無法校正的錯誤次數
BE=溫度
C0=未預期的電源中斷次數
C4=重定位事件計數
C7=高速傳輸模式錯誤次數
CE=最小抹除次數
CF=最大抹除次數
D0=平均抹除次數
D1=SLC 最小抹除次數
D2=SLC 最大抹除次數
D3=SLC 平均抹除次數
E7=SSD 壽命剩下
E9=將磁區計數寫入 NAND
EA=讀取 NAND 磁區計數
F1=LBA(邏輯區塊定址)寫入總數
F2=LBA(邏輯區塊定址)讀取總數
F3=NAND 溫度
F5=位元錯誤次數